Нанокомпозиты на основе оксидов 3d-металлов. Исследования морфологии и структуры методами электронной микроскопии и рентгеновской спектроскопии
Шрифт:
Формирование области XANES происходит в результате рассеяния фотоэлектронов на соседних поглощающему атомах материала. Обладая большой длиной свободного пробега, фотоэлектроны многократно рассеиваются и в процесс
Благодаря высокой чувствительности формы рентгеновских спектров поглощения к координационному окружению поглощающего атома (рис. 7), XAFS спектроскопия получила наибольшее распространение как неразрушающий метод качественного фазового анализа веществ в различных соединениях, исследования локальной и электронной структуры.
Рис. 7. Влияние изменений симметрии ближайшего окружения поглощающего атома на спектр поглощения
Анализ XAFS позволяет получать информацию об атомном строении локального атомного кластера в окрестности нескольких координационных сфер окружающих возбуждаемый атом, включая позиции атомов, длины связей, валентные углы, распределение электронной плотности на атомах, зонную структуру вещества и др. Все это делает этот метод весьма привлекательным для исследования наноструктурированных и многокомпонентных материалов.
Конец ознакомительного фрагмента.